1.一種金屬異物檢測方法，其特征在于，所述金屬異物檢測方法包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種金屬異物檢測方法，其特征在于，所述檢測統(tǒng)計量服從指數(shù)分布。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的金屬異物檢測方法，其特征在于，所述檢測閾值表示為，其中，t為檢測閾值，α為閾值調(diào)整系數(shù)，z為平均噪聲功率。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的金屬異物檢測方法，其特征在于，所述獲取待測產(chǎn)品的檢測統(tǒng)計量，具體包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的金屬異物檢測方法，其特征在于，根據(jù)所述檢測統(tǒng)計量，基于預(yù)設(shè)的取點規(guī)則，計算得到平均噪聲功率，具體包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的金屬異物檢測方法，其特征在于，所述平均噪聲功率表示為，其中，z為對稱采樣點的平均噪聲功率，w為對稱采樣點數(shù)量，i為第i個采樣點，ni表示第i個采樣點對應(yīng)的噪聲功率。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的金屬異物檢測方法，其特征在于，所述根據(jù)所述平均噪聲功率，計算得到檢測閾值，具體包括：
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的金屬異物檢測方法，其特征在于，所述確定閾值調(diào)整系數(shù)時有，故有，其中，α為閾值調(diào)整系數(shù)，w為對稱采樣點數(shù)量，pfa為目標(biāo)誤報率。
9.一種金屬異物檢測設(shè)備，包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器中并在所述處理器上運行的程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述程序時實現(xiàn)如權(quán)利要求1至8任一項所述金屬異物檢測方法的步驟。
10.一種存儲介質(zhì)，所述存儲介質(zhì)存儲有程序，其特征在于，所述程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如權(quán)利要求1至8任一項所述金屬異物檢測方法的步驟。