芯片圖像檢測系統的制作方法
【專利摘要】本實用新型提供一種芯片圖像檢測系統，包括：芯片圖像獲取裝置，用于獲取芯片圖像，并予以輸出；圖像處理裝置，用于將所述芯片圖像輸入檢測模型中進行識別，以確定芯片圖像所對應的芯片是否合格。本實用新型很好地避免了人工長時間低頭檢測芯片、導致頭腦發暈、眼睛疲勞、容易造成質量事故的情況。
【專利說明】
芯片圖像檢測系統
技術領域
[0001]本實用新型涉及半導體檢測技術領域，特別是涉及一種芯片圖像檢測系統。
【背景技術】
[0002]在現有的芯片生產過程中，一般都是通過人工的方式來對芯片的外觀進行檢測，以排除有瑕疵的產品。不過這種方式效率不高，而且對于人的依賴性很大，需要有經驗的人來進行操作。因此，本領域技術人員嘗試利用圖像技術來對芯片外觀進行檢測，不過如何快速獲取芯片圖像來為圖像檢測提供樣本，就成了本領域技術人員的一個難題。
【實用新型內容】
[0003]鑒于以上所述現有技術的缺點，本實用新型的目的在于提供一種芯片圖像檢測系統，用于解決現有技術中利用人工來對芯片外觀進行檢測導致效率不高的問題。
[0004]為實現上述目的及其他相關目的，本實用新型提供以下技術方案:
[0005]—種芯片圖像檢測系統，包括:芯片圖像獲取裝置，用于獲取芯片圖像，并予以輸出；圖像處理裝置，用于將所述芯片圖像輸入檢測模型中進行識別，以確定芯片圖像所對應的芯片是否合格，其中，所述芯片圖像獲取裝置包括:導軌，用于提供移動路徑;芯片框架，包括多個供放置芯片的安裝位，用于將放置在安裝位上的芯片沿導軌提供的移動路徑移動以將放置在安裝位上的芯片運送至預設位置;運動像機，設置于芯片框架上方，用于在芯片框架靜止于預設位置時沿預設軌跡對安裝位上的芯片進行拍照，并將所獲取的芯片圖像予以輸出。
[0006]優選地，在導軌上設有多個供觸發用于控制芯片框架在導軌上的移動速度的控制指令的傳感器，所述傳感器連接于圖像處理裝置，實現芯片框架在導軌上先做加速運動再做減速運動直至芯片框架停止在預設位置。
[0007]優選地，所述傳感器包括:進入傳感器，設置在芯片框架進入移動路徑時所在的導軌一端，用于檢測是否有芯片框架進入導軌;減速傳感器，設置到達預設位置前的移動路徑上，用于觸發芯片框架做檢索運動;到位傳感器，設置在預設位置所在處的導軌/移動路徑上，用于檢測芯片框架上的芯片是否送至預設位置。
[0008]優選地，在預設位置處設有一阻擋器。
[0009]優選地，所述芯片框架上包括兩列成平行設置安裝位，每列安裝位上具有5個間距相等的安裝位。
[0010]優選地，所述圖像處理裝置為計算機。
[0011]如上所述，本實用新型至少具有以下有益效果:
[0012]第一，開啟了利用視覺檢測來實現CPU封裝前的外觀檢測的先河；
[0013]第二，在現有生產中，芯片產線人工檢測一個芯片正常需要4秒時間，2x5個芯片需要40秒時間，而本實用新型只需要10秒就能檢測完2x5個芯片，效率提高了 10倍；
[0014]第三，很好地避免了人工長時間低頭檢測芯片、導致頭腦發暈、眼睛疲勞、容易造成質量事故的情況；
[0015]第四，克服了現有技術中由于工位員工調換頻繁，從而導致品質不能保證的問題。
【附圖說明】
[0016]圖1顯示為本實用新型一種芯片圖像檢測系統的原理圖。
[0017]圖2顯示為芯片圖像獲取裝置的原理圖。
[0018]附圖標號說明
[0019]100圖像獲取裝置
[0020]HO 導軌
[0021]120芯片框架
[0022]121安裝位
[0023]130運動像機
[0024]140進入傳感器
[0025]150減速傳感器
[0026]160到位傳感器
[0027]170阻擋器
[0028]200圖像處理裝置
【具體實施方式】
[0029]以下由特定的具體實施例說明本實用新型的實施方式，熟悉此技術的人士可由本說明書所揭露的內容輕易地了解本實用新型的其他優點及功效。
[0030]須知，本說明書所附圖式所繪示的結構、比例、大小等，均僅用以配合說明書所揭示的內容，以供熟悉此技術的人士了解與閱讀，并非用以限定本實用新型可實施的限定條件，故不具技術上的實質意義，任何結構的修飾、比例關系的改變或大小的調整，在不影響本實用新型所能產生的功效及所能達成的目的下，均應仍落在本實用新型所揭示的技術內容得能涵蓋的范圍內。同時，本說明書中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中間”及“一”等的用語，亦僅為便于敘述的明了，而非用以限定本實用新型可實施的范圍，其相對關系的改變或調整，在無實質變更技術內容下，當亦視為本實用新型可實施的范疇。
[0031]實施例1
[0032]如圖1，給出了一種芯片圖像檢測系統的原理圖，如圖所示，芯片視覺檢測系包括芯片圖像獲取裝置100，用于獲取芯片圖像，并予以輸出；圖像處理裝置200，用于將所述芯片圖像輸入檢測模型中進行識別，以確定芯片圖像所對應的芯片是否合格。
[0033]通過上述方案可以實現芯片檢測的自動化，而不需要人工進行檢測，提高了效率。
[0034]實施例2
[0035]請結合圖2，給出了所述芯片圖像獲取裝置的原理圖，如圖所示，所述芯片圖像獲取裝置包括:導軌110，用于提供移動路徑；芯片框架121，包括多個供放置芯片的安裝位121，用于將放置在安裝位121上的芯片沿導軌110提供的移動路徑移動以將放置在安裝位121上的芯片運送至預設位置;運動像機130，設置于芯片框架121上方，用于在芯片框架121靜止于預設位置時沿預設軌跡對安裝位121上的芯片進行拍照，并將所獲取的芯片圖像予以輸出。
[0036]實施例3
[0037]在具體實施中，在導軌110上設有多個供觸發用于控制芯片框架121在導軌110上的移動速度的控制指令的傳感器，所述傳感器連接于圖像處理裝置200，實現芯片框架121在導軌110上先做加速運動再做減速運動直至芯片框架121停止在預設位置。
[0038]具體地，所述傳感器包括:進入傳感器140，設置在芯片框架121進入移動路徑時所在的導軌110—端，用于檢測是否有芯片框架121進入導軌110;減速傳感器150，設置到達預設位置前的移動路徑上，用于觸發芯片框架121做檢索運動;到位傳感器160，設置在預設位置所在處的導軌110/移動路徑上，用于檢測芯片框架121上的芯片是否送至預設位置。
[0039]在具體實施中，在預設位置處設有一阻擋器170。
[0040]在具體實施中，所述芯片框架121上包括兩列成平行設置安裝位121，每列安裝位121上具有5個間距相等的安裝位121。
[0041 ]在具體實施中，所述圖像處理裝置200為計算機。
[0042]綜上所述，本實用新型至少具有以下有點:
[0043]第一，開啟了利用視覺檢測來實現CPU封裝前的外觀檢測的先河；
[0044]第二，在現有生產中，芯片產線人工檢測一個芯片正常需要4秒時間，2x5個芯片需要40秒時間，而本實用新型只需要10秒就能檢測完2x5個芯片，效率提高了 10倍；
[0045]第三，很好地避免了人工長時間低頭檢測芯片、導致頭腦發暈、眼睛疲勞、容易造成質量事故的情況；
[0046]第四，克服了現有技術中工位員工調換頻繁，從而導致品質不能保證的問題，所以，本實用新型有效克服了現有技術中的種種缺點而具高度產業利用價值。
[0047]上述實施例僅例示性說明本實用新型的原理及其功效，而非用于限制本實用新型。任何熟悉此技術的人士皆可在不違背本實用新型的精神及范疇下，對上述實施例進行修飾或改變。因此，舉凡所屬技術領域中具有通常知識者在未脫離本實用新型所揭示的精神與技術思想下所完成的一切等效修飾或改變，仍應由本實用新型的權利要求所涵蓋。
【主權項】
1.一種芯片圖像檢測系統，包括: 用于獲取芯片圖像并予以輸出的芯片圖像獲取裝置，包括導軌，用于提供移動路徑； 其特征在于，還包括: 芯片框架，包括多個供放置芯片的安裝位，用于將放置在安裝位上的芯片沿導軌提供的移動路徑移動以將放置在安裝位上的芯片運送至預設位置； 運動像機，設置于芯片框架上方，用于在芯片框架靜止于預設位置時沿預設軌跡對安裝位上的芯片進行拍照，并將所獲取的芯片圖像予以輸出； 圖像處理裝置，用于將所述芯片圖像輸入檢測模型中進行識別，以確定芯片圖像所對應的芯片是否合格。2.根據權利要求1所述的芯片圖像檢測系統，其特征在于:在導軌上設有多個供觸發用于控制芯片框架在導軌上的移動速度的控制指令的傳感器，所述傳感器連接于圖像處理裝置，實現芯片框架在導軌上先做加速運動再做減速運動直至芯片框架停止在預設位置。3.根據權利要求2所述的芯片圖像檢測系統，其特征在于:所述傳感器包括: 進入傳感器，設置在芯片框架進入移動路徑時所在的導軌一端，用于檢測是否有芯片框架進入導軌； 減速傳感器，設置到達預設位置前的移動路徑上，用于觸發芯片框架做檢索運動； 到位傳感器，設置在預設位置所在處的導軌/移動路徑上，用于檢測芯片框架上的芯片是否送至預設位置。4.根據權利要求1所述的芯片圖像檢測系統，其特征在于:在預設位置處設有一阻擋器。5.根據權利要求1所述的芯片圖像檢測系統，其特征在于:所述芯片框架上包括兩列成平行設置安裝位，每列安裝位上具有5個間距相等的安裝位。6.根據權利要求1所述的芯片圖像檢測系統，其特征在于:所述圖像處理裝置為計算機。
【文檔編號】G01N21/89GK205449821SQ201521035014
【公開日】2016年8月10日
【申請日】2015年12月14日
【發明人】李志遠, 耭世慧, 李熙春
【申請人】重慶遠創光電科技有限公司