技術編號：42325298
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本公開涉及憶阻器測試，更具體地涉及一種用于對憶阻器陣列進行測試的電路及測試方法。背景技術、阻變存儲器，又稱憶阻器。與傳統存儲器相比，阻變存儲器具有非易失性、存儲密度高等優點。通過對阻變存儲器施加不同的電壓或電流進行可逆調控，實現不同阻值之間的切換，從而可以存儲信息。、在實現上述發明構思的過程中，經研究發現：現有的對憶阻器陣列進行測試的電路，電路的驅動能力和測試電壓的靈活性較差，難以同時對多個憶阻器進行測試，且在測試的過程中，由于控制邏輯復雜，導致測試效率較低、成本較高的技術問題。技術實現思路...
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