本申請(qǐng)涉及測試，尤其涉及測試系統(tǒng)、方法、電子設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及產(chǎn)品。
背景技術(shù)：
1、相關(guān)測試方案中，背板在進(jìn)行產(chǎn)測過程中，需要用到計(jì)算高速互聯(lián)內(nèi)存盤，然而計(jì)算高速互聯(lián)內(nèi)存盤價(jià)格高昂，且在生產(chǎn)測試過程中需要不停地?fù)Q待測板，不停地拔插內(nèi)存盤，導(dǎo)致生產(chǎn)測試的成本高。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本申請(qǐng)?zhí)峁┝藴y試系統(tǒng)、方法、電子設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及產(chǎn)品，以至少解決相關(guān)技術(shù)中基于計(jì)算高速互聯(lián)內(nèi)存盤進(jìn)行生產(chǎn)測試帶來生產(chǎn)測試的成本高的問題。
2、本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N測試系統(tǒng)，包括待測板、電子設(shè)備和轉(zhuǎn)換裝置；
3、待測板與電子設(shè)備通信連接，待測板上設(shè)有內(nèi)存盤插槽；
4、電子設(shè)備與轉(zhuǎn)換裝置通信連接，電子設(shè)備用于發(fā)送調(diào)試指令；
5、轉(zhuǎn)換裝置通過內(nèi)存盤插槽與待測板連接，轉(zhuǎn)換裝置用于根據(jù)調(diào)試指令將預(yù)設(shè)內(nèi)存轉(zhuǎn)換為目標(biāo)內(nèi)存盤，以對(duì)待測板進(jìn)行測試，目標(biāo)內(nèi)存盤為計(jì)算高速互聯(lián)內(nèi)存盤。
6、本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N測試方法，方法應(yīng)用于測試系統(tǒng)，包括：
7、響應(yīng)于測試系統(tǒng)形成回路，上電并對(duì)目標(biāo)待測板進(jìn)行測試；
8、響應(yīng)于目標(biāo)待測板測試結(jié)束，斷電關(guān)機(jī)。
9、本申請(qǐng)還提供了一種測試裝置，包括：
10、測試單元，用于響應(yīng)于測試系統(tǒng)形成回路，上電并對(duì)目標(biāo)待測板進(jìn)行測試；
11、斷電單元，用于響應(yīng)于目標(biāo)待測板測試結(jié)束，斷電關(guān)機(jī)。
12、本申請(qǐng)還提供了一種電子設(shè)備，包括：存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)計(jì)算機(jī)程序；處理器，用于執(zhí)行計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)上述任一種測試方法的步驟。
13、本申請(qǐng)還提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其中，計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述任一種測試方法的步驟。
14、本申請(qǐng)還提供了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序，計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述任一種測試方法的步驟。
15、通過本申請(qǐng)，測試系統(tǒng)包括待測板、電子設(shè)備和轉(zhuǎn)換裝置；待測板與電子設(shè)備通信連接，待測板上設(shè)有內(nèi)存盤插槽；電子設(shè)備與轉(zhuǎn)換裝置通信連接，電子設(shè)備用于發(fā)送調(diào)試指令；轉(zhuǎn)換裝置通過內(nèi)存盤插槽與待測板連接，轉(zhuǎn)換裝置用于根據(jù)調(diào)試指令將預(yù)設(shè)內(nèi)存轉(zhuǎn)換為目標(biāo)內(nèi)存盤，以對(duì)待測板進(jìn)行測試，目標(biāo)內(nèi)存盤為計(jì)算高速互聯(lián)內(nèi)存盤，解決了相關(guān)方案在生產(chǎn)測試過程中利用計(jì)算高速互聯(lián)內(nèi)存進(jìn)行測試，存在成本高的技術(shù)問題，通過將預(yù)設(shè)內(nèi)存轉(zhuǎn)換為計(jì)算高速互聯(lián)內(nèi)存，利用目標(biāo)內(nèi)存盤對(duì)待測板進(jìn)行測試，進(jìn)而在生產(chǎn)測試時(shí)達(dá)到減少生產(chǎn)測試成本的技術(shù)效果。
1.一種測試系統(tǒng)，其特征在于，包括待測板、電子設(shè)備和轉(zhuǎn)換裝置；
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述轉(zhuǎn)換裝置包括目標(biāo)芯片、控制模塊、內(nèi)存模塊和調(diào)試模塊；
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述轉(zhuǎn)換裝置還包括電源模塊；
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述轉(zhuǎn)換裝置還包括緩存模塊；
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述轉(zhuǎn)換裝置的數(shù)量由所述待測板上內(nèi)存盤插槽的數(shù)量確定。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括通用串行總線集線器，所述通用串行總線集線器用于擴(kuò)展所述電子設(shè)備的第三預(yù)設(shè)接口數(shù)量，以便同時(shí)連接多個(gè)所述轉(zhuǎn)換裝置。
7.一種測試方法，其特征在于，所述方法應(yīng)用于如權(quán)利要求1-6中任一項(xiàng)所述的測試系統(tǒng)，所述方法包括：
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試方法，其特征在于，所述響應(yīng)于所述測試系統(tǒng)形成回路，上電并對(duì)目標(biāo)待測板進(jìn)行測試之前，所述的方法還包括：
9.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：
10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其中，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求7至8任一項(xiàng)所述測試方法的步驟。
11.一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求7至8任一項(xiàng)所述測試方法的步驟。